30도 내부 나사산 SEM 스터브, 25 mm (30-Degree Internally Threaded SEM Specimen Stub, 25 mm)
SKU: MIC-Stub-287
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30도 단면과 내부 나사산이 있는 SEM 스터브입니다. 직경 25 mm, 높이 10 mm입니다. 가볍게 연마되어 있으며 사용에 영향을 주지 않는 작은 가공 흔적이 보일 수 있습니다. 치수는 수작업으로 측정하여 약간 다를 수 있습니다. 스터브 1개로 제공됩니다.






