斜凹槽針式試片台，共三種角度版本：DZ15930（35/55 度）、DZ15931（36/54 度）與 DZ15932（38/52 度）。皆為直徑 12.7 mm，針高 8 mm。斜凹槽使試片保持固定傾斜，以便在可接受針式試片台的 SEM 上成像。請選擇符合所需傾斜角的角度組合。
選擇角度組合前，請先確定成像所需的固定試片傾斜角度。依此需求選擇凹槽支撐件，再評估其與 SEM 試片台的相容性。請將標示的針腳高度與完整試片及支撐件配置的評估分開考量。
| 選項 1 | DZ15930 – 帶斜凹槽針式試片台；35/55 度；直徑 12.7 x 8 mm PH。, DZ15931 – 帶斜凹槽針式試片台；36/54 度；直徑 12.7 x 8 mm PH。, DZ15932 – 帶斜凹槽針式試片台；38/52 度；直徑 12.7 x 8 mm PH。 |
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