薄板試片用單槽夾持固定座，型錄編號 DZ16274，尺寸為直徑 25 mm x 高 10 mm。此槽可直立夾持薄板、箔片與薄膜，以便以電子顯微鏡檢視其邊緣或橫截面。訂購前請確認底座適用於您的顯微鏡載台。
若要研究邊緣或橫截面，請將薄板放置成直立於單槽中夾持時，欲檢查的區域仍保持露出。SEM 製備也需要留意電子束和檢測器的方向。請分別確認薄板與槽的配合，以及底座與載物台的配合。
選擇地區
台灣TWD
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薄板試片用單槽夾持固定座，型錄編號 DZ16274，尺寸為直徑 25 mm x 高 10 mm。此槽可直立夾持薄板、箔片與薄膜，以便以電子顯微鏡檢視其邊緣或橫截面。訂購前請確認底座適用於您的顯微鏡載台。
若要研究邊緣或橫截面，請將薄板放置成直立於單槽中夾持時，欲檢查的區域仍保持露出。SEM 製備也需要留意電子束和檢測器的方向。請分別確認薄板與槽的配合，以及底座與載物台的配合。
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